Prosím počkejte chvíli...
Nepřihlášený uživatel
Nacházíte se: VŠCHT PrahaCentrální laboratoře → Laboratoř RTG → Přístrojové vybavení
iduzel: 27609
idvazba: 35112
šablona: stranka
čas: 25.11.2017 12:03:19
verze: 3887
uzivatel:
remoteAPIs:
branch: trunk
Obnovit | RAW

Laboratoř rentgenové difraktometrie a spektrometrie

Přístrojové vybavení

XRD - difraktometr Bruker AXS D8

(Bruker, Germany)

difraktometr Bruker D8 německé firmy Bruker, řízený počítačem, Cu lampa. System se skládá z goniometru, počítače pro měření a vyhodnocování dat s databází PDF-4+ 2015 obsahující 365.877  experimentálních a počítaných práškových karet. K dispozici je variabilní divergenční clona, rotační držák či sample changer na 7 vzorků, 1D detektor LynxEye nebo 0D scintilační detektor s graphitovým monochromatorem  a variabilní antirozptylová clona. Vyhodnocování je možno provádět s komerčním softwarem BRUKER EVA od firmy Bruker. Kvalitativní a kvantitativní fázová analýza, Rietveld analýza, měření mřžkových parametrů, měření tenkých vrstev, stanovování velikosti krystalitů. Přístroj je vybaven  vysokoteplotní komorou pro měření do teplot 1400°C na vzduchu, ve vakuu a inertním plynu.

šířka 450px

XRD - difraktometr PANanalytical X´Pert PRO

(PANanalytical, Holland)

difraktometr X´Pert PRO od Holandské firmy PANanalytical, řízený počítačem, Cu lampa. System se skládá z goniometru, počítače pro měření a vyhodnocování dat s databází PDF-4+ 2015 obsahující 365.877  experimentálních a počítaných práškových karet. K dizpozici je variabilní divergenční clona, sample changer, 1D detektor XCelerátor nebo 0D scintilační detektor se zakřiveným graphitovým monochromatorem a variabilní detektorová clona. Vyhodnocování je možno provádět s komerčním softwarem HighScore Plus 4.0 od firmy PANanalytical. Kvalitativní a kvantitativní fázová analýza, Rietveld analýza, měření mřžkových parametrů, měření tenkých vrstev, stanovování velikosti krystalitů.

šířka 450px

XRD - difraktometr PANanalytical X'Pert3 Powder

(PANanalytical, Holland)
difraktometr X'Pert3 Powder od Holandské firmy PANanalytical, řízený počítačem, Cu lampa. System se skládá z goniometru, počítače pro měření a vyhodnocování dat s databází PDF-4+ 2015 obsahující 365.877  experimentálních a počítaných práškových karet. K dizpozici je variabilní divergenční clona,sample changer a1D detektor PIXCEL. Vyhodnocování je možno provádět s komerčním softwarem HighScore Plus 4.0 od firmy PANanalytical. Kvalitativní a kvantitativní fázová analýza, Rietveld analýza, měření mřžkových parametrů, měření tenkých vrstev, stanovování velikosti krystalitů.

šířka 215px

mikroXRD – mikrodifrakční a texturní systém D8 Discover s 2D Vantech detektorem

Mikrodifrakční systém D8 Discover německé firmy Bruker AXS, řízený počítačem, Co lampa. Systém se skládá z goniometru, PC computer pro sběr dat a vyhodnocení s databází PDF-4+ 2015 obsahující 365.877  experimentálích a počítaných práškových karet. Paralelní polykapilární optika POLYCAP s průměrem primárního svazku 4mm, 5 dlouhých UBC kolimátorů – průměry 0.1, 0.3, 0.5, 1 and 2mm. Motorizovaný XYZ nástavec – max. zatížení 1kg, maximální výška vzorku 42mm, X,Y,Z rozsah- 25mm. Rentgenovou práškovou difrakci lze využít pro měření práškových difraktogramů z bodu o minimální velikosti 100 x 100 μm. Systém je schopen sbírat Debye-Scherrer framy Debye-Scherrer images-gamma Iron and alpha Iron (-gamma Iron vykazující výraznou texturu, alpha Iron – náhodná orientace) a konvertovat je do standardního 1D práškového difraktogramu. Powder pattern- gamma Iron-texture, alpha Iron-random orientation

šířka 450px

XRF - spektrometr ARL 9400 XP

(Thermo ARL, Switzerland)

Plně automatický sekvenční XRF spektrometr pro kvalitativní a kvantitativní prvkovou analýzu až 83 prvků (B-C O-U) v rozsahu od ppm do 100%. Možné vzorky – pevné materiály, prášky, tenké vrstvy a kapaliny. Rh lampa, 4kW generátor, 4 kolimátory, 6 krystalů (AX 20, TLAP, PET, Ge 111, LiF 200, LiF 220), 2 detektory – proporcionální a scintilační. Bezstandartová analýza pomocí softwaru UNIQUANT 4, analýzy pomocí kalibračních křivek pomocí softwaru Winxrf.

šířka 215px

XRF - spektrometr Axios

(PANanalytical, Holland)

Plně automatický sekvenční XRF spektrometr pro kvalitativní a kvantitativní prvkovou analýzu až 87 prvků (Be-U) v rozsahu od ppm do 100%. Možné vzorky – pevné materiály, prášky, tenké vrstvy a kapaliny. Rh lampa, 4kW generátor, 3 kolimátory, 8 krystalů (PX1, PX5, PX4a, PX7, PE002, Ge 111, LiF 200, LiF 220), 2 detektory – proporcionální a scintilační. Bezstandartová analýza pomocí softwaru Omnian, kvantitativní analýzy pomocí kalibračních křivek a softwaru SuperQ.

šířka 215px

XRF - spektrometr Performix – bodová analýza (1.5mm) a mapování

(Thermo ARL, Switzerland)

Plně automatický sekvenční XRF spektrometr pro kvalitativní a kvantitativní prvkovou analýzu až 83 prvků (Be-B O-U) v rozsahu od ppm do 100%. Možné vzorky – pevné materiály, prášky, tenké vrstvy. Rh lampa, 4.2kW generátor, 4 kolimátory, 6 krystalů (AXBeB, AX03, PET, Ge 111, LiF 200, LiF 220), 2 detektory – proporcionální a scintilační. Bezstandartová analýza pomocí softwaru UNIQUANT 5 integrovaného do sw Oxsas, analýzy pomocí kalibračních křivek pomocí softwaru Oxsas.

šířka 215px

Aktualizováno: 23.6.2016 09:16, Autor: Jan Prchal


VŠCHT Praha
Technická 5
166 28 Praha 6 – Dejvice
IČO: 60461373
DIČ: CZ60461373

Datová schránka: sp4j9ch

Copyright VŠCHT Praha 2014
Za informace odpovídá Oddělení komunikace, technický správce Výpočetní centrum
zobrazit plnou verzi