Číslo předmětu: (č.p.108404)
Název předmětu: Úvod do elektronové difrakce a elektronové mikroanalýzy (Introduction to Electron Diffraction and Electron Probe Microanalysis)
Semestr: 8
Rozsah: 2/1
Vyučující: RNDr. Jaroslav Maixner CSc., Ing. Richard Pažout.
Návaznosti: na předmět Metody studia a charakterizace pevných látek, doc. Hulínský; Chemie a fyzika pevných látek, prof. Kratochvíl
Vyučovací jazyk: angličtina
Kontrola studia: Předmět je vyučován v rozsahu 2 hodiny týdně 2/1 z, Zk, zápočet je udělován na základě vypracování protokolů, jejich hodnocení je součástí zkoušky
Anotace
- History of Electron Diffraction Microscopy, Comparison of X-ray and Electron Diffraction.
- Specimen Preparation and Observation.
- Interaction of Electrons with Matter (SE, BSE, X-ray, Cathodolumiscence), Principles of Electron Diffraction.
- Source of electrons (W, LBG, Field Emission), Electron Optics, Vacuum (High, Low, ESEM).
- Detectors of Electrons.
- Detectors of X-rays – Spectrometers: EDS and WDS, Features, Advantages, Disadvantages.
- Comparison of EDS and WDS analysis with XRF analysis.
- Qualitative Analysis, Quantitative Analysis, Electron Microprobe.
- EBSD (Electron Back-Scattered Diffraction), Bragg´s Law, Pattern Deconvolution
- Bands Location through Hough Transform, Pattern Indexing.
- Phase Differentiation and Identification, Databases.
- Simultaneous application of EBSD and EDS analysis.
- Application of EBSD – OIM (Orientation Imaging Microscopy): Grain Boundary, Grain Size, Crystal Orientation and Direction.
- Texture Analysis, Thin Film Applications.
Doporučená literatura
Metody analýzy povrchů : Elektronová mikroskopie a difrakce. – 1. vyd. – Praha: Academia, 1996 Elektronová mikroskopie a elektronová difrakce / Zdeněk Borovec. – 1. vyd. – Praha : Stát. pedagog. nakl., 1985