Číslo předmětu: 108504
Název předmětu: RTG fázová analýza II.
Semestr: 7.
Rozsah: 2/1, z, zk.
Vyučující: RNDr. J. Maixner, CSc – Centrální laboratoře, Ing. Jan Čejka, Ph.D. – Ústav chemie pevných látek
Předmět navazuje: Chemii a fyziku pevných látek
Kontrola studia: zápočet je udělován na základě vypracování protokolů, jejich hodnocení je součástí zkoušky
Anotace
- Sběr dat na difraktometru X´Pert Pro programem DataCollector – příprava vzorku, vytvoření měřícího programu a změření vzorku.
- Vyhodnocovací program HighScore Plus – Výpočet absorpčních koeficientů, Kvalitativní fázová analýza(Search/Match v PDF2), Semikvantitativní fázová analýza (Metoda korundového čísla, Indexace difraktogramů (programy Treor, Ito, Dicvol), Upřesňování mřížkových parametrů, Výpočet teoretického práškového difraktogramu, 3D zobrazení struktur, Rietveldova metoda.
- Stanovení velikosti krystalitů metodou jedné linie, Warren-Averbach, Hall-Williamson
- Stanovení kvantity pomocí metody vnitřního, vnějšího standardu a korundového čísla.
- Vyhledávání v databázi anorganických struktur ICSD (Inorganic Crystal Structure Database) – 3D zobrazení struktur, vypočet teoretického práškového difraktogramu a export ve formátu ASCII.
- Vyhledávání v databázi organických struktur CSD (Cambridge Structure Databáze) – 3D zobrazení struktur, vypočet teoretického práškového difraktogramu.
- Seznámení se s vyhledáváním publikací v krystalografických časopisech v elektronické formě prostřednictvím WWW stránek on line.
- GSAS – program na Rietveldovy metodu – upřesnění metodu rigid body
- Řešení struktur z monokrystalových dat přímými metodami programy Sir 97, Sir 2004.
- Upřesnění struktury z monokrystalových dat programem CRYSTALS.
- Výpočet parametrů struktury programem PARST, zobrazeni molekuly včetně ADP(Atomic Displasement Parameters) programem ORTEP.
- XRF – seznámení se se základy teorie XRF, příprava vzorku, měření dat pomocí programu WinXRF, spracování dat programem Uniquant 4.0.
Doporučená literatura
I. Kraus – Úvod do strukturní rentgenografie
J. Maixner – Výuka a aplikace RTG záření