Prosím počkejte chvíli...
Nepřihlášený uživatel
Nacházíte se: VŠCHT PrahaCentrální laboratoře → Laboratoř transmisní elektronové mikroskopie → Instrumentální vybavení
iduzel: 27284
idvazba: 35011
šablona: stranka
čas: 15.4.2024 18:02:04
verze: 5378
uzivatel:
remoteAPIs:
branch: trunk
Server: 147.33.89.150
Obnovit | RAW
iduzel: 27284
idvazba: 35011
---Nová url--- (newurl_...)
domena: 'clab.vscht.cz'
jazyk: 'cs'
url: '/tem/vybaveni'
iduzel: 27284
path: 1/20076/20077/20080/27275/27284
CMS: Odkaz na newurlCMS
branch: trunk
Obnovit | RAW

Laboratoř transmisní elektronové mikroskopie

EFTEM Jeol 2200 FS

Transmisní elektronový mikroskop vybavený energiovým filtrem umožňuje pracovat při urychlovacích napětích do 200 kV. Přístroj je vybaven univerzálně a je proto vhodný k pozorování jak materiálových tak biologických vzorků.

Jeol EFTEM 2200 FS

Pohled do mikroskopovny, místnost BS89, tel. linka 4464

Přístroj umožňuje:

  • Pozorovat strukturu v klasickém prozařovacím módu (TEM) se zvětšením do 1 200 000x (atomární rozlišení)
  • Pozorovat strukturu ve skenovacím  prozařovacím módu (STEM) ve světlém i tmavém poli (HAADF = high angle annular dark field – materiálový kontrast snímků)
  • Difrakci elektronového svazku na vzorku
  • Měření chemického složení pomocí EDS (energiově disperzní spektroskopie, vhodná pro těžší prvky) a pomocí EELS (spektroskopie energetických ztrát elektronů, vhodná pro lehké prvky) v režimu průměrného složení, bodové analýzy, liniového profilu nebo elementárního mapování

Vybrané technické specifikace:

  • Zdroj elektronů: ZrO/W Schottkyho emitor (FEG)
  • Bodové rozlišení: 0,23 nm
  • Rozlišení EDS analýzy: 1 - 2,4 nm
  • Zvětšení: 2 000 – 1 200 000x (TEM mód), 50 - 15 000x (low mag mód)
  • Náklon vzorku: ± 30°
  • Tlak v okolí vzorku: do 2·10-5 Pa
  • Držáky vzorků: single-tilt umožňující tomografii do 80°, analytický double-tilt, chladící držák
  • Precese svazku

Leica RES 102

Zařízení na iontové prolešťování umožňuje připravit vzorek transparentní pro elektrony.

Leica EM TXP

Umožňuje v jednom přístroji frézování, řezání, broušení a leštění vzorku, bez nutnosti jeho přesouvání. Integrovaný stereomikroskop umožňuje identifikaci a snadnou manipulaci i s malými vzorky.

Příklady výsledků

originál

a) Mikrostrukturní snímek stříbra, Marek I. et al. Materials Science & Engineering A 627 (2015) 326–332
b) Snímek s atomárním rozlišením pořízený na nanokrystalickém niklu, Michalcová A. et al. Materials Letters 137 (2014) 221–224
c) Elektronová difrakce kvazikrystalu, Michalcová A. Chem. Listy 106, 51-71 (2012)
d) Příklad EDS spektra

Aktualizováno: 19.2.2024 09:25, Autor: Jan Prchal


VŠCHT Praha
Technická 5
166 28 Praha 6 – Dejvice
IČO: 60461373
DIČ: CZ60461373

Datová schránka: sp4j9ch

Copyright VŠCHT Praha 2014
Za informace odpovídá Oddělení komunikace, technický správce Výpočetní centrum
zobrazit plnou verzi