EFTEM Jeol 2200 FS
Transmisní elektronový mikroskop vybavený energiovým filtrem umožňuje pracovat při urychlovacích napětích do 200 kV. Přístroj je vybaven univerzálně a je proto vhodný k pozorování jak materiálových tak biologických vzorků.
Pohled do mikroskopovny, místnost BS89, tel. linka 4464
Přístroj umožňuje:
- Pozorovat strukturu v klasickém prozařovacím módu (TEM) se zvětšením do 1 200 000x (atomární rozlišení)
- Pozorovat strukturu ve skenovacím prozařovacím módu (STEM) ve světlém i tmavém poli (HAADF = high angle annular dark field – materiálový kontrast snímků)
- Difrakci elektronového svazku na vzorku
- Měření chemického složení pomocí EDS (energiově disperzní spektroskopie, vhodná pro těžší prvky) a pomocí EELS (spektroskopie energetických ztrát elektronů, vhodná pro lehké prvky) v režimu průměrného složení, bodové analýzy, liniového profilu nebo elementárního mapování
Vybrané technické specifikace:
- Zdroj elektronů: ZrO/W Schottkyho emitor (FEG)
- Bodové rozlišení: 0,23 nm
- Rozlišení EDS analýzy: 1 - 2,4 nm
- Zvětšení: 2 000 – 1 200 000x (TEM mód), 50 - 15 000x (low mag mód)
- Náklon vzorku: ± 30°
- Tlak v okolí vzorku: do 2·10-5 Pa
- Držáky vzorků: single-tilt umožňující tomografii do 80°, analytický double-tilt, chladící držák
- Precese svazku
Leica RES 102
Zařízení na iontové prolešťování umožňuje připravit vzorek transparentní pro elektrony.
Leica EM TXP
Umožňuje v jednom přístroji frézování, řezání, broušení a leštění vzorku, bez nutnosti jeho přesouvání. Integrovaný stereomikroskop umožňuje identifikaci a snadnou manipulaci i s malými vzorky.
Příklady výsledků
a) Mikrostrukturní snímek stříbra, Marek I. et al. Materials Science & Engineering A 627 (2015) 326–332
b) Snímek s atomárním rozlišením pořízený na nanokrystalickém niklu, Michalcová A. et al. Materials Letters 137 (2014) 221–224
c) Elektronová difrakce kvazikrystalu, Michalcová A. Chem. Listy 106, 51-71 (2012)
d) Příklad EDS spektra