Prosím počkejte chvíli...
Nepřihlášený uživatel
Nacházíte se: VŠCHT PrahaCentrální laboratoře → Laboratoř RTG → Výuka → Úvod do elektronové difrakce a elektronové mikroanalýzy
iduzel: 27595
idvazba: 35098
šablona: stranka
čas: 3.7.2022 12:59:15
verze: 5054
uzivatel:
remoteAPIs:
branch: trunk
Obnovit | RAW

Introduction to Electron Diffraction and Electron Probe Microanalysis

Číslo předmětu: (č.p.108404)
Název předmětu: Úvod do elektronové difrakce a elektronové mikroanalýzy (Introduction to Electron Diffraction and Electron Probe Microanalysis)
Semestr: 8
Rozsah: 2/1
Vyučující: RNDr. Jaroslav Maixner CSc., Ing. Richard Pažout.
Návaznosti: na předmět Metody studia a charakterizace pevných látek, doc. Hulínský; Chemie a fyzika pevných látek, prof. Kratochvíl
Vyučovací jazyk: angličtina
Kontrola studia: Předmět je vyučován v rozsahu 2 hodiny týdně 2/1 z, Zk, zápočet je udělován na základě vypracování protokolů, jejich hodnocení je součástí zkoušky

Anotace

  1. History of Electron Diffraction Microscopy, Comparison of X-ray and Electron Diffraction.
  2. Specimen Preparation and Observation.
  3. Interaction of Electrons with Matter (SE, BSE, X-ray, Cathodolumiscence), Principles of Electron Diffraction.
  4. Source of electrons (W, LBG, Field Emission), Electron Optics, Vacuum (High, Low, ESEM).
  5. Detectors of Electrons.
  6. Detectors of X-rays – Spectrometers: EDS and WDS, Features, Advantages, Disadvantages.
  7. Comparison of EDS and WDS analysis with XRF analysis.
  8. Qualitative Analysis, Quantitative Analysis, Electron Microprobe.
  9. EBSD (Electron Back-Scattered Diffraction), Bragg´s Law, Pattern Deconvolution
  10. Bands Location through Hough Transform, Pattern Indexing.
  11. Phase Differentiation and Identification, Databases.
  12. Simultaneous application of EBSD and EDS analysis.
  13. Application of EBSD – OIM (Orientation Imaging Microscopy): Grain Boundary, Grain Size, Crystal Orientation and Direction.
  14. Texture Analysis, Thin Film Applications.

Doporučená literatura

Metody analýzy povrchů : Elektronová mikroskopie a difrakce. – 1. vyd. – Praha: Academia, 1996 Elektronová mikroskopie a elektronová difrakce / Zdeněk Borovec. – 1. vyd. – Praha : Stát. pedagog. nakl., 1985

Aktualizováno: 2.6.2016 14:09, Autor: Jan Prchal

VŠCHT Praha
Technická 5
166 28 Praha 6 – Dejvice
IČO: 60461373
DIČ: CZ60461373

Datová schránka: sp4j9ch

Copyright VŠCHT Praha 2014
Za informace odpovídá Oddělení komunikace, technický správce Výpočetní centrum
zobrazit plnou verzi