Prosím počkejte chvíli...
Nepřihlášený uživatel
Nacházíte se: VŠCHT PrahaCentrální laboratoře → Laboratoř RTG → Výuka
iduzel: 27592
idvazba: 35095
šablona: stranka
čas: 28.3.2024 17:27:06
verze: 5378
uzivatel:
remoteAPIs:
branch: trunk
Server: 147.33.89.150
Obnovit | RAW
iduzel: 27592
idvazba: 35095
---Nová url--- (newurl_...)
domena: 'clab.vscht.cz'
jazyk: 'cs'
url: '/rtg/vyuka'
iduzel: 27592
path: 1/20076/20077/20080/24887/27592
CMS: Odkaz na newurlCMS
branch: trunk
Obnovit | RAW

Laboratoř rentgenové difraktometrie a spektrometrie

Výuka v laboratoři

Zde si můžete stáhnout skripta k předmětům RTG fázová analýza I a RTG fázová analýza II. Přednáška RTG fázová analýza I ke stažení zde.

Podrobnosti o krystalografii, rentgenové difrakci a metodě monokrystalové rtg difrakce (Single Crystal X-Ray Diffraction) v anglickém jazyce

https://en.wikipedia.org/wiki/X-ray_crystallography

Podrobnosti k technice rtg práškové difrakce(X-Ray Powder Diffraction-XRPD) v anglickém jazyce viz např.:

https://en.wikipedia.org/wiki/Powder_diffraction

Podrobnosti k technice rtg fluorescenční analýzy(X-Ray Fluorescence Analysis) v anglickém jazyce viz např.:

https://en.wikipedia.org/wiki/X-ray_fluorescence

Rentgenová difrakční analýza je metoda založená na interakci rentgenového záření s elektrony atomů spočívající v pružném (bezfotonovém) rozptylu. Díky pravidelnému periodickému uspořádání atomů v krystalické fázi dochází po rozptylu a následné interferenci rentgenového záření ke vzniku difrakčních maxim, jejichž poloha, intenzita a tvar závisí na druhu atomů a dokonalosti jejich uspořádání v 3D prostoru. Studium tohoto difrakčního obrazce pak umožňuje zpětně studovat krystalické složení vzorku a jeho mikrostrukturu.

Rentgenová spektrální analýza je metoda založená na interakci rentgenového záření s elektrony atomů spočívající v absorpci fotonu rtg záření, excitaci elektronu zpravidla z K-té hladiny do nejvyšší volné hladiny a následující přechod atomu z tohoto excitovaného stavu do základního za postupného vyzáření charakteristických fotonu K-té, L-té atd. série daného atomu (viz. demonstrace v ???). Metoda je schopna podávat prvkové složení jak pevné, tak kapalné fáze.

Elektronová mikroanalýza (SEM, EPMA) je metoda založená na interakci elektronů se vzorkem (vodivým) s následnou detekcí sekundárních elektronů SE (morfologie povrchu), detekcí zpětně odražených elektronů BSE (kontrast daný složením vzorku) a detekcí charakteristického rtg záření EDS či WDS (chemická analýza). Metoda je schopna podat visuální obraz zkoumaného objektu, prostorové rozložení fází a jejich prvkové složení v objektech velikosti řádově mikrometrů. Elektronová difrakce zpětně odražených elektronů umožňuje stanovit fázové složení na vyleštěných vzorcích.

Podrobnější informace a úvod do metod lze nalézt na stránkách předmětu RTG fázová analýza I (č.p. 108402) a Úvod do elektronové difrakce a elektronové mikroanalýzy (č.p. 108404). Konkrétní aplikace bohatého programového vybavení spojeného s rentgenovou a elektronovou difrakční a spektrální analýzou lze nalézt na stránkách předmětu RTG fázová analýza II (č. p. 108504). Výuka těchto předmětů probíhá na VŠCHT pod vedením pracovníků této laboratoře. Ti se též podílejí výukou konkrétních rtg aplikací pro studenty ČVUT, fakulty jaderné.

Aktualizováno: 11.1.2018 14:55, Autor: Jan Prchal


VŠCHT Praha
Technická 5
166 28 Praha 6 – Dejvice
IČO: 60461373
DIČ: CZ60461373

Datová schránka: sp4j9ch

Copyright VŠCHT Praha 2014
Za informace odpovídá Oddělení komunikace, technický správce Výpočetní centrum
zobrazit plnou verzi