Výuka v laboratoři
Zde si můžete stáhnout skripta k předmětům RTG fázová analýza I a RTG fázová analýza II. Přednáška RTG fázová analýza I ke stažení zde.
Podrobnosti o krystalografii, rentgenové difrakci a metodě monokrystalové rtg difrakce (Single Crystal X-Ray Diffraction) v anglickém jazyce
https://en.wikipedia.org/wiki/X-ray_crystallography
Podrobnosti k technice rtg práškové difrakce(X-Ray Powder Diffraction-XRPD) v anglickém jazyce viz např.:
https://en.wikipedia.org/wiki/Powder_diffraction
Podrobnosti k technice rtg fluorescenční analýzy(X-Ray Fluorescence Analysis) v anglickém jazyce viz např.:
https://en.wikipedia.org/wiki/X-ray_fluorescence
Rentgenová difrakční analýza je metoda založená na interakci rentgenového záření s elektrony atomů spočívající v pružném (bezfotonovém) rozptylu. Díky pravidelnému periodickému uspořádání atomů v krystalické fázi dochází po rozptylu a následné interferenci rentgenového záření ke vzniku difrakčních maxim, jejichž poloha, intenzita a tvar závisí na druhu atomů a dokonalosti jejich uspořádání v 3D prostoru. Studium tohoto difrakčního obrazce pak umožňuje zpětně studovat krystalické složení vzorku a jeho mikrostrukturu.
Rentgenová spektrální analýza je metoda založená na interakci rentgenového záření s elektrony atomů spočívající v absorpci fotonu rtg záření, excitaci elektronu zpravidla z K-té hladiny do nejvyšší volné hladiny a následující přechod atomu z tohoto excitovaného stavu do základního za postupného vyzáření charakteristických fotonu K-té, L-té atd. série daného atomu (viz. demonstrace v ???). Metoda je schopna podávat prvkové složení jak pevné, tak kapalné fáze.
Elektronová mikroanalýza (SEM, EPMA) je metoda založená na interakci elektronů se vzorkem (vodivým) s následnou detekcí sekundárních elektronů SE (morfologie povrchu), detekcí zpětně odražených elektronů BSE (kontrast daný složením vzorku) a detekcí charakteristického rtg záření EDS či WDS (chemická analýza). Metoda je schopna podat visuální obraz zkoumaného objektu, prostorové rozložení fází a jejich prvkové složení v objektech velikosti řádově mikrometrů. Elektronová difrakce zpětně odražených elektronů umožňuje stanovit fázové složení na vyleštěných vzorcích.
Podrobnější informace a úvod do metod lze nalézt na stránkách předmětu RTG fázová analýza I (č.p. 108402) a Úvod do elektronové difrakce a elektronové mikroanalýzy (č.p. 108404). Konkrétní aplikace bohatého programového vybavení spojeného s rentgenovou a elektronovou difrakční a spektrální analýzou lze nalézt na stránkách předmětu RTG fázová analýza II (č. p. 108504). Výuka těchto předmětů probíhá na VŠCHT pod vedením pracovníků této laboratoře. Ti se též podílejí výukou konkrétních rtg aplikací pro studenty ČVUT, fakulty jaderné.